[发明专利]温度监视有效
申请号: | 201510333673.3 | 申请日: | 2015-06-16 |
公开(公告)号: | CN105277289B | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | 弗里索·雅各布斯·耶德玛;罗曼诺·胡夫曼;让·勒内·布兰茨 | 申请(专利权)人: | 恩智浦有限公司 |
主分类号: | G01K7/00 | 分类号: | G01K7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本公开的各方面涉及相变材料。根据示例实施例,相变材料具有晶体结构,该晶体结构显现出根据时间而增大的变化。例如,这样的变化可被实现来监视易腐烂物品已经在其温度高于阈值温度的环境中暴露的时间。基于变化,提供了对相变材料暴露于其温度高于阈值温度的环境进行描述的特性描述。 | ||
搜索关键词: | 温度 监视 | ||
【主权项】:
1.一种温度监视装置,包括:相变材料,所述相变材料具有显现出根据易腐烂物品暴露于温度高于阈值温度的环境的时间而增大的变化的晶体结构;以及集成电路,所述集成电路被配置并布置为通过提供对所述相变材料暴露于温度高于阈值温度的环境的电特性描述来对所述变化进行响应;其中,所述相变材料被配置和布置为:通过从第一相变为第二相来显现出所述相变材料的晶体结构的变化,并且随后响应于施加在所述晶体结构上的电压,经历所述第二相向所述第一相的变化,重置所述相变材料以检测所述相变材料对温度的暴露。
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