[发明专利]一种激光测距光学系统及其主波信号取样方法

摘要

本发明涉及一种激光测距光学系统及其主波信号取样方法，属于激光测距技术领域，包括依次排列的接收物镜、场镜、变换物镜和光电探测器，所述接收物镜、场镜和变换物镜设置为同光轴结构，所述场镜位于所述接收物镜的焦点处，所述接收物镜和场镜之间设置有反射镜一，所述反射镜一的中心位于接收物镜的光轴上，且所述反射镜一与接收物镜的光轴呈45°设置，所述反射镜一的一侧设置有反射镜二，所述反射镜一和反射镜二的中心位于同一直线并与所述接收物镜的光轴垂直，本发明具有结构紧凑，成本低，测量精度高，有效防止过强的主波信号对光电探测器造成损坏，适用范围广的特点。

主权项

1.一种激光测距光学系统，包括依次排列的接收物镜、场镜、变换物镜和光电探测器，所述接收物镜、场镜和变换物镜设置为同光轴结构，其特征在于：所述场镜位于所述接收物镜的焦点处，所述接收物镜和场镜之间设置有反射镜一，所述反射镜一的中心位于接收物镜的光轴上，且所述反射镜一与接收物镜的光轴呈45°设置，所述反射镜一的一侧设置有反射镜二，所述反射镜一和反射镜二的中心位于同一直线并与所述接收物镜的光轴垂直，所述反射镜二与所述接收物镜的光轴平行设置，所述反射镜一、反射镜二表面均镀有对激光光束高反射率的膜；所述激光测距光学系统的主波信号取样方法，包括如下步骤：(1)激光光束以45°的入射角度入射至反射镜一，所述激光光束入射的一侧与反射镜二所在的位置不同侧，所述激光光束的一部分被反射镜一反射并贯穿通孔，作为发射光束；所述激光光束的另一部分透射过反射镜一，作为透射光束；(2)透射光束入射到反射镜二，并经反射镜二反射，作为反射光束；(3)反射光束再次入射到反射镜一，所述反射光束的一部分被反射镜一反射，作为取样光束；(4)取样光束依次经过场镜和变换物镜，最后入射至光敏面，获得主波信号，所述主波信号的光强可以通过改变所述反射镜二的反射率进行调节；所述发射光束贯穿通孔到达测距目标，并经测距目标反射，作为接收光束；所述接收光束入射至接收物镜，再依次经过场镜和变换物镜，最后入射至光敏面，获得回波信号。