[发明专利]允许传感器和信号调节电路的同时性能测试的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201510252418.6 申请日: 2015-05-18
公开(公告)号: CN105115532B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: V.马尔罕;M.K.普拉罕 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01R27/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;陈岚
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种具有性能补偿测试能力的传感器系统包括传感器设备、电阻桥、信号调节电路、第一测试连接器和第二测试连接器。电阻桥电路被设置在传感器设备上并且包括激励端子、电路公共端子和两个输出端子,并且被配置成在通电时跨两个输出端子供应桥输出电压。信号调节电路电耦合到激励端子、电路公共端子和两个输出端子,并且被配置成供应代表桥输出电压的传感器输出信号。第一测试连接器电耦合到两个输出端子中的一个并且被配置成耦合到阻抗测试设备。第二测试连接器电耦合到电路公共端子并且被配置成耦合到阻抗测试设备。
搜索关键词: 允许 传感器 信号 调节 电路 同时 性能 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种具有性能补偿测试能力的传感器系统,包括:传感器设备;电阻桥电路,其被设置在所述传感器设备上并且包括激励端子、电路公共端子和两个输出端子,所述电阻桥电路被配置成在通电时跨所述两个输出端子供应桥输出电压;信号调节电路,其电耦合到所述激励端子、所述电路公共端子和所述两个输出端子,所述信号调节电路被配置成供应代表所述桥输出电压的传感器输出信号;第一测试连接器,其电耦合到所述两个输出端子中的一个,所述第一测试连接器被配置成耦合到阻抗测试设备;以及第二测试连接器,其电耦合到所述电路公共端子,使得所述第二测试连接器直接耦合到所述信号调节电路,所述第二测试连接器被配置为被耦合到所述阻抗测试设备以使对所述信号调节电路的输入发生变化,从而同时导出针对电阻桥电路的第一校正和针对信号调节电路的第二校正。
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