[发明专利]外辐射源雷达多普勒-时延两维双门限目标检测方法在审

专利信息
申请号: 201510245319.5 申请日: 2015-05-14
公开(公告)号: CN104931946A 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 王海涛;杜自成;王伟;符渭波;田斌 申请(专利权)人: 西安电子工程研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S7/36;G01S13/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 王鲜凯
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种外辐射源雷达多普勒-时延两维双门限目标检测方法,首先参考天线和回波天线分别接收基站发射直达波信号和运动目标回波信号,然后对回波天线接收的回波信号依次进行干扰相消和相干积累处理,最后利用一种多普勒-时延两维双门限恒虚警算法进行目标检测,本发明主要解决在强干扰剩余环境下对目标检测高漏警和虚警的问题,可在强干扰剩余情况下实现对目标检测,具有低漏警概率和低虚警概率的优势。
搜索关键词: 辐射源 雷达 多普勒 时延两维双 门限 目标 检测 方法
【主权项】:
一种外辐射源雷达多普勒‑时延两维双门限目标检测方法,其特征在于步骤如下:步骤1:将外辐射源雷达的回波通道经干扰对消以后的信号S(n)+D(n)+Z(n)与参考通道获得的基站直达波信号R(n)进行相干积累:<mrow><mi>y</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>N</mi></munderover><mrow><mo>(</mo><mi>S</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mi>D</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mi>Z</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow><mo>)</mo></mrow><msup><mi>R</mi><mo>*</mo></msup><msup><mrow><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>-</mo><mi>t</mi><mo>)</mo></mrow><mi>e</mi></mrow><mrow><mi>j</mi><mn>2</mn><mi>&pi;</mi><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mi>n</mi><mo>/</mo><mi>N</mi></mrow></msup></mrow>其中S(n)表示目标回波信号,D(n)表示直达波和多径干扰剩余信号,Z(n)表示噪声信号,fd表示多普勒频移单元,t表示时延单元,N表示作相关的点数,*表示共轭转置,j表示为‑1的平方根;步骤2:计算多谱勒维噪声和干扰的幅度Ad<mrow><msub><mi>A</mi><mi>d</mi></msub><mo>=</mo><mrow><mo>(</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><msub><mi>b</mi><mn>1</mn></msub><mo>=</mo><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow><mrow><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>+</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow></munderover><mi>y</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mo>+</mo><msub><mi>b</mi><mn>1</mn></msub><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><msub><mi>b</mi><mn>2</mn></msub><mo>=</mo><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></munderover><mi>y</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mo>+</mo><msub><mi>b</mi><mn>2</mn></msub><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>)</mo></mrow><mo>)</mo></mrow><mo>/</mo><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>/</mo><mn>2</mn></mrow>其中Bde表示检测单元个数,Bpro表示保护单元个数;比较信号y(fd,t)与Ad的幅值,如果y(fd,t)/Ad大于给定的多普勒维检测门限Cd,则转入步骤3,否则转入步骤4;步骤3:计算时延维噪声和干扰的幅度hd<mrow><msub><mi>h</mi><mi>d</mi></msub><mo>=</mo><mrow><mo>(</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><msub><mi>b</mi><mn>1</mn></msub><mo>=</mo><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow><mrow><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>+</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow></munderover><mi>y</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>+</mo><msub><mi>b</mi><mn>1</mn></msub><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><msub><mi>b</mi><mn>2</mn></msub><mo>=</mo><mo>-</mo><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></mrow><msub><mi>B</mi><mi>pro</mi></msub></munderover><mi>y</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>f</mi><mi>d</mi></msub><mo>,</mo><mi>t</mi><mo>+</mo><msub><mi>b</mi><mn>2</mn></msub><mo>)</mo></mrow><mo>)</mo></mrow><mo>/</mo><msub><mi>B</mi><mi>de</mi></msub><mo>/</mo><mn>2</mn></mrow>比较信号y(fd,t)与hd的幅值,如果y(fd,t)/hd大于给定的时延维检测门限τd,则宣布在多普勒频移单元fd和时延单元t上检测到目标U(fd,t),检测结束,否则转入步骤4;步骤4:宣布在多普勒频移单元fd和时延单元t上没有检测到目标,检测结束。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子工程研究所,未经西安电子工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510245319.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top