[发明专利]平板探测器的坏点校正方法有效
| 申请号： | 201510232797.2 | 申请日： | 2015-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN104835125B | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 陈永丽;牛杰;胡扬;崔凯;张文日 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 余毅勤 |
| 地址： | 201815 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种平板探测器的坏点校正方法，是对平板探测器进行坏点识别，将坏点分为第一类坏点和第二类坏点，并分别采取不同的方法校正第一类坏点和第二类坏点。此方法分别对相对独立的坏点和相对集中的坏点采取不同的方法进行校正，可以降低校正难度，提高校正的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 平板 探测器 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种平板探测器的坏点校正方法，其特征在于，包括对平板探测器进行坏点识别；遍历平板探测器的所有坏点，将第一半径的坏点簇以及第一长度的坏点线定义为第一类坏点；将孤立坏点、第二半径的坏点簇以及第二长度的坏点线定义为第二类坏点；其中，所述第二长度小于所述第一长度，所述第二半径小于所述第一半径；以及对所述第一类坏点与所述第二类坏点分别进行校正；其中，校正所述第一类坏点中第一半径的坏点簇的方法是双线性插值法，校正所述第一类坏点中第一长度的坏点线的方法是三样条插值法。
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