[发明专利]长焦距大口径大F数望远成像系统有效

专利信息
申请号: 201510202148.8 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN104834079B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 赵惠;邹刚毅;庞志海;解晓蓬;樊学武 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B17/08 分类号: G02B17/08
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种长焦距大口径大F数望远成像系统,长焦距大口径大F数望远成像系统包括主反射镜、次反射镜、用于编码的相位掩膜板、校正透镜组A、校正透镜组B、面阵CMOS图像传感器以及解码处理单元;次反射镜设置在经主反射镜反射后所形成的反射光所在光路上;次反射镜、相位掩膜板、校正透镜组A、校正透镜组B以及面阵CMOS图像传感器依次设置在同一光路上;解码处理单元与面阵CMOS图像传感器相连;本发明提供了一种长焦距大口径大F数望远成像系统,将波前编码技术引入到长焦距大口径大F数望远镜成像系统的设计当中,利用编码技术人为地产生可控的MTF的降低,从而使后续MTFC技术的效果更加稳定可靠。
搜索关键词: 焦距 口径 望远 成像 系统
【主权项】:
一种长焦距大口径大F数望远成像系统,其特征在于:所述长焦距大口径大F数望远成像系统包括主反射镜、次反射镜、用于编码的相位掩膜板、校正透镜组A、校正透镜组B、面阵CMOS图像传感器以及解码处理单元;所述次反射镜设置在经主反射镜反射后所形成的反射光所在光路上;所述次反射镜、相位掩膜板、校正透镜组A、校正透镜组B以及面阵CMOS图像传感器依次设置在同一光路上;所述解码处理单元与面阵CMOS图像传感器相连;所述相位掩膜板的2D相位掩膜函数形式为:Q(x,y)=α((x43.9706)3+(y43.9706)3)+β((x43.9706)2+(y43.9706)2)]]>其中:α和β用于表征相位掩膜函数的相位调制强度,α约等于0.0012mm,β约等于0.00024mm;x和y分别代表归一化的孔径坐标,取值范围均为[‑43.9706,43.9706]mm。
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