[发明专利]一种CMOS图像传感器列缓冲器信号完整性优化电路及其方法有效

专利信息
申请号: 201510188200.9 申请日: 2015-04-20
公开(公告)号: CN104836966B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 韩本光;吴龙胜;何杰;郭仲杰 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
主分类号: H04N5/374 分类号: H04N5/374;H04N5/378
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 徐文权
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种CMOS图像传感器列缓冲器信号完整性优化电路及其方法,该优化电路包括运算放大,列选通开关,反馈开关,积分信号选通开关,参考信号选通开关,积分信号采样开关,参考信号采样开关,参考信号采样保持电容,积分信号采样保持电容。和传统读出电路列缓冲器相比,本发明避免了传统结构缓冲器从休眠模式到使能模式切换时因运算放大器工作点的较大变化导致的kick‑back(回踢)效应。同时,该结构也避免了在进行二次相关双采样时,两个采样保持电容与列缓冲器输入端寄生电容发生的电荷分享效应,大大抑制了列缓冲器对采样保持电路信号完整性的破坏。
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 缓冲器 信号 完整性 优化 电路 及其 方法
【主权项】:
一种CMOS图像传感器读出电路中列缓冲器信号完整性优化电路,其特征在于:包括列缓冲器,所述列缓冲器包括运算放大器(10),列选通开关(11),反馈开关(12),第一积分信号选通开关(13)和第二信号选通开关(15),第一参考信号选通开关(14)和第二参考信号选通开关(16),第一积分信号采样开关(18)和第二积分信号采样开关(19),第一参考信号采样开关(17)和第二参考信号采样开关(100),参考信号采样保持电容(101),及积分信号采样保持电容(102);所述运算放大器(10)正输入端与共模电平VCM连接,输出端上连接有列选通开关(11);所述反馈开关(12)两端分别接运算放大器(10)输出端和负向输入端;所述参考信号采样保持电容(101)上极板通过第一参考信号采样开关(17)连接至前级可编程增益放大器输出端,积分信号采样保持电容(102)通过第一积分信号采样开关(18)连接至前级可编程增益放大器输出端;所述第一积分信号选通开关(13)两端分别接运算放大器(10)输出端和积分信号采样电容(102)的上极板,第二信号选通开关(15)两端分别接运算放大器(10)负输入端和积分信号采样电容(102)的下极板;第一参考信号选通开关(14)两端分别接运算放大器(10)输出端和参考信号采样电容(101)的上极板,第二参考信号选通开关(16)两端分别接运算放大器(10)负输入端和参考信号采样电容(101)的下极板;第二参考信号采样开关(100)两端分别接运算放大器(10)正输入端和参考信号采样电容(101)的下极板,第二积分信号采样开关(19)两端分别接运算放大器(10)正输入端和参考信号采样电容(102)的下极板。
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