[发明专利]直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的方法在审
申请号: | 201510185904.0 | 申请日: | 2015-04-20 |
公开(公告)号: | CN104772306A | 公开(公告)日: | 2015-07-15 |
发明(设计)人: | 丁洪斌;王勇;李聪;王志伟;吴兴伟;陈俊凌 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | B08B7/00 | 分类号: | B08B7/00 |
代理公司: | 大连星海专利事务所 21208 | 代理人: | 裴毓英 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供一种直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的方法,包括以下步骤:预先设定工作气体以及测定标准灯的发射光谱;相继打开真空设备、水冷设备和进气设备,完成直流级联弧等离子体炬放电的准备工作;放电产生直流级联弧等离子体炬,并对第一镜样品进行清洗;改变相关清洗参数,对第一镜样品实施个性化清洗;清洗一定时间后原位检测第一镜样品反射率恢复情况,根据检测结果确定是否继续清洗;如果需要继续清洗,则重复清洗直至达到清洗要求。本发明采用的直流级联弧等离子体炬可调放电参数多、方向性好、无杂质,能实现大面积、长距离、均匀快速去除第一镜表面的杂质沉积层,并完成在线检测反射率。 | ||
搜索关键词: | 直流 级联 等离子体 清洗 马克 第一 方法 | ||
【主权项】:
一种直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤A:根据待清洗第一镜样品的污染物成分,设定使用工作气体种类;测定标准灯的发射光谱以及待清洗第一镜样品的反射光谱;将待清洗第一镜样品固定在位于真空腔室内的水冷支架上;步骤B:将真空腔室抽至放电所需真空状态并维持之;打开水冷系统为需要冷却的部件提供冷却水;打开供气单元,为级联源提供工作气体;步骤C:触发电源开关,进行高频引弧,将通入到级联源的工作气体击穿电离;引弧结束,由直流电源维持放电;被电离的气体由级联源环状阳极的中心喷口喷出,进入与级联源相连的真空中,形成直流级联弧等离子体炬;所述直流级联弧等离子体炬加载到第一镜样品的杂质沉积层表面,以清洗第一镜样品;步骤D:通过直流电源、真空蝶阀以及质量流量计分别调节放电电流、真空腔室气压以及工作气体流速参数,以获得不同的直径、长度、等离子体温度以及等离子体密度的直流级联弧等离子体炬;步骤E:当第一镜样品被清洗一定时间后,停止清洗,原位检测第一镜样品的反射率;根据第一镜样品反射率恢复情况,决定是否继续清洗;如果达到清洗要求,则完成第一镜样品的清洗;如果未达到清洗要求,则重复步骤C、步骤D,直至达到清洗要求。
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