[发明专利]一种CCD像素位置偏差计算方法

摘要

本发明涉及一种CCD像素位置偏差计算方法，包括：在CCD表面产生一组纵向动态干涉条纹，CCD在一段时间内以固定帧频曝光产生多组纵向动态干涉条纹图像；对纵向动态干涉条纹图像进行处理，得到每个像素的输出在同一时刻所处的相位；结合纵向动态干涉条纹的移动方向计算同一时刻每个像素与第一个像素之间的相位差；利用相位差，结合CCD像素的尺寸计算得到纵向动态干涉条纹的波矢量以及所有像素的横向位置偏差；求所有像素的纵向位置偏差。本发明的方法有效地利用了动态干涉条纹数据，可以精确的计算出所有像素同一时刻的相位，从而得到高精度的像素位置偏差。

主权项

一种CCD像素位置偏差计算方法，包括：步骤1)、在CCD表面产生一组纵向动态干涉条纹，CCD在一段时间内以固定帧频曝光产生多组纵向动态干涉条纹图像；步骤2)、对步骤1)获得的纵向动态干涉条纹图像进行处理，得到每个像素的输出在同一时刻所处的相位；步骤3)、利用步骤2)所得到的同一时刻所有像素的相位，结合纵向动态干涉条纹的移动方向计算同一时刻每个像素与第一个像素之间的相位差；步骤4)、利用步骤3)所得到的相位差，结合CCD像素的尺寸计算得到纵向动态干涉条纹的波矢量以及所有像素的横向位置偏差；步骤5)、在CCD表面产生一组横向动态干涉条纹，CCD在一段时间内以固定帧频曝光产生多组横向动态干涉条纹图像；步骤6)、对步骤5)获得的横向动态干涉条纹图像进行处理，得到每个像素的输出在同一时刻所处的相位；步骤7)、利用步骤6)所得到的同一时刻所有像素的相位，结合横向动态干涉条纹的移动方向计算同一时刻每个像素与第一个像素之间的相位差；步骤8)、利用步骤7)所得到的相位差，结合CCD像素的尺寸计算得到横向干涉条纹的波矢量以及所有像素的纵向位置偏差。