[发明专利]一种基于近场散射的颗粒粒度测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于近场散射的颗粒粒度测量装置及方法，其中测量装置包括激光器、空间滤波器、准直透镜、透镜组、CCD相机以及计算机，激光器用于发出相干光束；空间滤波器对激光器发出的相干光速进行滤除并得到高斯光束；准直透镜用于将高斯光束转换成直光束；透镜组用于设定焦距，将距离测量区域Z处的散斑进行成像； CCD相机用于采集透镜组成像的近场散斑图像；计算机对CCD相机采集的近场散斑图像进行处理得到颗粒粒度分布。与现有技术相比，本发明在无需添加去除中心光强的复杂装置的情况下，使系统设备简单，可以实现被测颗粒粒度及分布的测量；不需要任何角分辨检测，扩展了散射角范围，实现了纳米颗粒粒度测量。

主权项

一种基于近场散射的颗粒粒度图像采集装置，其特征在于：包括激光器、空间滤波器、准直透镜、透镜组以及CCD相机，所述空间滤波器位于所述激光器的输出光路上，所述准直透镜位于所述空间滤波器的输出光路上，在所述准直透镜的后端依次设置所述的透镜组和CCD相机，所述透镜组的像平面在所述CCD相机的靶面上。