[发明专利]具备三个以上的电极的芯片电子部件检查挑选装置

摘要

公开了具备三个以上的电极的芯片电子部件检查挑选装置。包括：基台；轴支承于基台的芯片电子部件输送圆盘(具有长方形的开口部、对于具备三个以上的电极的长方体形状的芯片电子部件进行收容的透孔以长方形的开口部的长边排列在该输送圆盘的半径方向上的配置来形成)；把芯片电子部件供给收容于该输送圆盘的透孔的芯片电子部件供给收容部(具备：将芯片电子部件供给输送圆盘的透孔的位置、在芯片电子部件的侧面与透孔的长方形开口部的侧面相对的位置暂时地进行立设收容于输送圆盘的透孔的单元；将芯片电子部件在把具有其最大面积的面设为底面的状态下配置于透孔内的单元)；检查芯片电子部件的电特性的电特性检查部；挑选检查过的芯片电子部件的挑选部。

主权项

1.一种包括以下组件和部分的、具备三个以上的电极的芯片电子部件的检查挑选装置：基台；可旋转地轴支承于基台的芯片电子部件输送圆盘，但是，在该输送圆盘，具有长方形的开口部、能够对于具备三个以上的电极的长方体形状的芯片电子部件以把具有其最大面积的面设为底面的状态来暂时地进行收容的透孔被沿着圆周为两列以上且各列为两个以上地以长方形的开口部的长边排列在该输送圆盘的半径方向上的配置来形成；以及沿该输送圆盘的旋转路径依次设置的、把芯片电子部件供给收容于该输送圆盘的透孔的芯片电子部件供给收容部，但是，在该芯片电子部件供给收容部具备以随机的状态将芯片电子部件供给到接近输送圆盘的透孔的位置、接着在芯片电子部件的侧面与透孔的长方形开口部的侧面相对的位置以把芯片电子部件的端面设为底面的状态暂时地进行立设收容于输送圆盘的透孔的单元、和接着通过把被以该配置立设收容的芯片电子部件放倒在透孔内从而将芯片电子部件在把具有其最大面积的面设为底面的状态下配置于透孔内的单元；包括以与检查对象的芯片电子部件的电极位置对应的方式沿着该输送圆盘的半径方向配置的芯片电子部件电特性测定用探针的电特性检查部；以及根据检查结果来挑选检查过的芯片电子部件的挑选部。