[发明专利]非接触式的电子线路测试装置的测试方法

摘要

本发明公开通过测试线路的电容特性判断线路好坏的测试装置的测试方法，通过导电介质、自容式触摸IC或互容式触摸IC对被测线路在不同状态下的电容值进行测试，然后由测试主板对比不同状态下的电容值的差别判断线路的状态，这样在被测线路一端或两端无法引出测试点时依然能够有效、准确的测试出电子线路的好坏，避免了以往由于测试手段的不足或测试费用的昂贵而让电子线路不良的电子产品流入市场的问题，同时，本发明的应用对电子线路测试行业将是突破性进展。

主权项

一种非接触式的电子线路测试装置的测试方法，其特征在于，电子线路测试装置包括触摸IC、测试主板及第一导电介质，所述测试主板与触摸IC相连，所述触摸IC直接或通过第二导电介质与被测线路板的被测线路一端相连，所述第一导电介质与被测线路板的被测线路另一端相连或靠近；所述触摸IC采用自容式触摸IC；所述触摸IC与测试主板采用I2C/SPI协议进行通讯；所述电子线路测试装置的测试方法包括如下步骤：1)把测试主板、触摸IC与被测线路板的被测线路连好；2)接触触摸IC，使触摸IC对被测线路板的被测线路的电容值进行检测，并把检测到的电容值A传输到测试主板；3)把第一导电介质与被测线路板的被测线路另一端相连或靠近；4)再次接触触摸IC，使触摸IC对被测线路板的被测线路电容值进行检测，并把检测到的电容值B传输到测试主板；5)测试主板通过分析被测线路的电容值A、B判断线路的好坏，具体判断过程为：若A和B差值小于设定范围，小于1000，则判断为断路；若A和B差值在设定范围，大于1000小于10000，则判断为通路；若A、B的数值远远超过设定范围，大于60000以上，则判断为短路。