[发明专利]一种光电成像系统光轴偏差的快速检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510025747.7 申请日: 2015-01-19
公开(公告)号: CN104501745B 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 刘华;黄征宇;张连超;陈宁;魏维;范世珣;范大鹏 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙)43008 代理人: 周长清
地址: 410073 湖南省长沙市砚瓦池*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种光电成像系统光轴偏差快速检测方法及装置,该方法为通过被测光电成像系统和基准成像系统同时采集图像,选取基准系统图像内任意特征明显目标作为基准,运用目标图像轮廓边缘提取和特征匹配方法分析被测光电成像系统与基准成像系统中同一特征明显目标的偏差,得出被测光电成像系统瞄准线的偏差。该装置用来实施上述方法。本发明具有原理简单、操作方便、校准精度高、校准效率高等优点。
搜索关键词: 一种 光电 成像 系统 光轴 偏差 快速 检测 方法 装置
【主权项】:
一种光电成像系统光轴偏差快速检测方法,其特征在于,通过被测光电成像系统和基准成像系统同时采集图像,选取基准系统图像内任意特征明显目标作为基准,运用目标图像轮廓边缘提取和特征匹配方法分析被测光电成像系统与基准系统中同一特征明显目标的偏差,得出被测光电成像系统瞄准线的偏差;所述目标图像轮廓边缘提取和特征匹配方法为:运用Sobel边缘提取算法提取基准成像系统与被测光电成像系统的图像轮廓边缘,得到x和y方向的轮廓特征图;整合x和y方向轮廓图得到轮廓灰度图,再通过图像二值化处理得到轮廓边缘特征图像,作为图像匹配的核心依据;根据图像轮廓的边缘特征,在被测光电成像系统图像中进行搜索,最后确定相似度最高的轮廓即为基准成像系统中选定的目标,并返回该目标在两幅图像中的位置偏差。
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