[发明专利]电路老化仿真方法及装置有效
| 申请号： | 201510020790.4 | 申请日： | 2015-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN105843974B | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 孙永生;湛灿辉;付一伟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;黄健 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种电路老化仿真方法及装置。本发明的电路老化仿真方法，其特征在于，包括：获取集成电路中各门电路的SP；根据所述各门电路的SP，分别从预设的各SP的老化库中确定所述各门电路的时延；其中，每个SP的老化库分别包括：所述各门电路对应的时延；根据所述各门电路的时延，对所述集成电路进行静态时序分析STA仿真。本发明实施例可提高老化仿真精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 老化 仿真 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路老化仿真方法，其特征在于，包括：获取集成电路中各门电路的信号概率SP；根据所述各门电路的SP，分别从预设的每个SP的老化库中确定所述各门电路的时延；其中，所述每个SP的老化库分别包括：所述各门电路对应的时延；根据所述各门电路的时延，对所述集成电路进行静态时序分析STA仿真；其中，所述根据所述各门电路的时延，对所述集成电路进行静态时序分析STA仿真，包括：根据预设的所述各门电路的SP对应的降额参数，对所述各门电路的时延进行校正；根据校正后的所述各门电路的时延，对所述集成电路进行STA仿真。
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