[发明专利]质谱分析装置

摘要

本发明在将PESI离子源的探针(6)刺入试样(9)之前，在从高电压产生部(12)对探针(6)不施加电压的状态和施加有电压的状态下分别测定总离子流。若探针(6)恰当地安装在支架(5)上，则电压施加会使得探针(6)顶端周围的空气中的成分离子化，因此，这会反映到总离子流中。因此，不施加电压时与施加电压时的总离子流会产生较大差异。另一方面，若探针(6)未恰当地安装，则不施加电压时与施加电压时的总离子流不会产生明显差异。探针安装判定部(24)以正常时求出的阈值为基准来判定总离子流差，由此检测探针(6)的安装不良，若有安装不良，则将错误信息输出至显示部(42)。由此，能可靠地检测探针(6)的安装不良、脱落，从而可避免执行无用的测定、伴随时间经过的生物体试样的劣化等。

主权项

一种质谱分析装置，其具备：导电性的探针；支架，其保持该探针；高电压产生部，其对所述探针施加高电压；以及位移部，其使该探针或该试样中的至少一方移动，以使试样附着于所述探针的顶端，通过所述位移部使试样附着于所述探针的顶端，并在使该探针的顶端脱离试样的状态下对该探针施加高电压，由此，利用电喷雾现象而在大气压下将试样中的成分离子化，该质谱分析装置的特征在于，包括：a)分析控制部，其以如下方式控制各部，即，在使试样附着于所述探针的顶端之前的该探针脱离该试样的状态下，分别执行不对该探针施加高电压时的质谱分析和对该探针施加有高电压时的质谱分析；以及b)探针安装判定部，其根据在所述分析控制部的控制下执行的不对所述探针施加高电压时的质谱分析的结果与对该探针施加有高电压时的质谱分析的结果的差或比，判定所述探针在所述支架上的安装状况。