[发明专利]靶向质谱分析的方法在审
| 申请号： | 201480078713.8 | 申请日： | 2014-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN106461628A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | A·N·维尔恩驰寇韦 | 申请（专利权）人： | 莱克公司 |
| 主分类号： | G01N30/72 | 分类号： | G01N30/72;H01J49/00;H01J49/40 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 马景辉 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种靶向质谱分析方法，用于分析相比于样品基质处于亚ppb水平的痕量化合物。在标准条件下色谱分离样品以利用目标质量(M)相对保留时间(RT)的映射。在M(RT)以下的小质量离子被RF场拒绝(质量过滤)，而剩余的离子被累积，从而或者直接从电子轰击电离源，或者从线性RF阱或者经由具有轴向离子捕获的加热式仅RF四极，被脉冲注射进入多反射TOF MS。与电子轰击电离源结合，该方法在基质负载在微克范围时提供亚毫微微克的灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 靶向 谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种用于样品的靶向质谱分析的方法，包括：创建色谱分离的标准条件，使得目标化合物的质量M被映射为保留时间RT的函数；注射样品并且对样品进行色谱分离；电离所述样品；通过射频场去除小于M(RT)的低质量离子；经由电子束或射频四极或阱进行离子累积和脉冲喷射；以及在多反射飞行时间质谱仪MR‑TOF MS中进行质量分析。
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