[发明专利]带有开闭器的光发射测试装置

摘要

一种用于测量电子部件（3）的光特性的测试装置（1），所述测试装置（1）包括，在一端处的入口（5），电子部件（3）能够呈于所述入口处以便测试；位于入口处的开闭器（7），其中，所述开闭器（7）配置为能够在第一打开位置与第二关闭位置之间运动，在所述第一打开位置中，待测试的电子部件（3）能够被接收在所述入口（5）中，且在所述第二关闭位置中，所述开闭器（7）能够覆盖所述电子部件（3）支撑于其上的座（9）的至少大部分，使得所述开闭器能够防止由所述座（9）的至少大部分使由所述电子部件（3）发射的光转向离开所述测试装置（1），其中，所述开闭器（7）包括至少一个滑动门(15a、15b)，能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器运动至其第一打开位置，并且能够使所述至少一个滑动门（15a、15b）滑动以使所述开闭器（7）运动至其第二关闭位置，并且其中，所述至少一个滑动门（15a、15b）包括切口部分（17），当所述开闭器（7）处于其第二关闭位置中时，所述切口部分（17）限定所述开口（11）。还提供了包括所述测试装置（1）的组件。

主权项

一种用于测试电子部件3的测试装置1，所述测试装置1包括：封装件1a，所述封装件1a在一端处具有入口5，电子部件3能够呈于所述入口5处以便测试；位于所述入口5处的开闭器7，其中，所述开闭器7配置为能够在第一打开位置与第二关闭位置之间运动，在所述第一打开位置中，待测试的电子部件3能够被接收在所述入口5中，且在所述第二关闭位置中，所述开闭器7能够覆盖所述电子部件3支撑于其上的座9的至少大部分，使得所述开闭器能够防止由所述座9的至少大部分使由所述电子部件3发射的光转向离开所述测试装置1，其中，所述开闭器7包括至少一个滑动门15a、15b，能够使所述至少一个滑动门15a、15b滑动以使所述开闭器运动至其第一开口位置中，且能够使所述至少一个滑动门15a、15b滑动以使所述开闭器7运动至其第二关闭位置中，其中，所述至少一个滑动门15a、15b包括切口部分17，当所述开闭器7处于其第二关闭位置中时，所述切口部分17限定开口11，由所述电子部件3发射的光能够通过所述开口11。