[发明专利]料位测量装置及其用途和填料表面拓扑测定方法有效
| 申请号： | 201480074905.1 | 申请日： | 2014-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN105980817B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·韦勒;莱温·迪特尔勒 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/284 | 分类号： | G01F23/284;G01S13/88 |
| 代理公司： | 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测定容器(308)中的填料表面(307)的拓扑的料位测量装置(301)包括：天线装置(305)、容纳装置(304)和控制单元(312)。控制单元(312)能够调节天线装置(305)的发射角(315)和天线装置(305)的相对于填充材料表面(307)的空间位置。控制单元(312)能够通过控制天线装置(305)的位置并通过控制天线装置(305)的发射和/或接收角来改变料位测量装置(301)的最终发射方向。 | ||
| 搜索关键词： | 填料 表面 拓扑 测定 | ||
【主权项】：
1.一种用于测定填料表面(307)的拓扑的料位测量装置(301)，其包括：/n天线装置(305)，其包括阵列天线，用于发射和/或接收电磁信号(306)；/n容纳装置(304)；/n控制单元(312)，/n其中，所述天线装置(305)被紧固在所述容纳装置(304)上，/n其中，所述天线装置(305)的多个发射角和/或接收角(315)能够以电子的方式通过数字波束成形或模拟移相来调节，/n其中，所述容纳装置(304)用于以机械的方式通过移动所述天线装置(305)或使所述天线装置(305)绕旋转轴旋转来调节所述天线装置(305)的相对于所述填料表面(307)的位置，/n其中，在所述天线装置(305)的辅助下，所述控制单元(312)用于通过将以机械的方式定位所述天线装置(305)与以电子的方式调节所述天线装置(305)的所述发射角和/或接收角(315)相结合，来检测来自所述填料表面(307)的不同区域的多个回波信号。/n
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