[发明专利]中子射线检测装置及中子捕捉疗法装置有效
申请号: | 201480073204.6 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN105917251B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 泷和也 | 申请(专利权)人: | 住友重机械工业株式会社 |
主分类号: | G01T3/06 | 分类号: | G01T3/06;A61N5/10;G01T1/20 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 检测中子射线的中子射线检测装置具备:闪烁体(13),在有放射线入射时产生光;光纤(14),传送在闪烁体(13)中产生的光;及剂量计算部(21),根据通过光纤(14)传送的光来计算中子剂量。光纤(14)在闪烁体(13)侧端部的壁部具有使光漫反射的反射部(14d)。 | ||
搜索关键词: | 中子 射线 检测 装置 捕捉 疗法 | ||
【主权项】:
1.一种中子射线检测装置,其检测中子射线,其特征在于,具备:闪烁体,在有放射线入射时产生光;光纤,传送在所述闪烁体中产生的所述光;及计算部,根据通过所述光纤传送的所述光来计算中子剂量,所述光纤在所述闪烁体侧端部的壁部具有使所述光漫反射的反射部,所述反射部在所述光纤的壁部从所述闪烁体侧端部形成至达到预先规定的长度的位置,当将所述光纤的直径设为φ、将通过所述光纤内的光在所述光纤内全反射时的临界角设为θ、并将形成所述反射部的所述预先规定的长度设为L时,满足如下:L=φ/tanθ。
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