[发明专利]用于在易于爆炸区域中执行测量的辐射度测量设备

摘要

本发明涉及一种用于在易于爆炸区域中执行测量的辐射度测量设备，所述辐射度测量设备在测量位置处仅需要少量空间，并且能够经济地进行生产。所述辐射度测量设备包括能够用在易于爆炸区域中的测量单元(7)。所述测量单元包括闪烁体(13)和半导体检测器(15)，所述闪烁体(13)将入射到闪烁体上的放射性辐射转化为光子，所述半导体检测器被连接到所述闪烁体(13)并且能够借助于本安电源而被操作，以及度量学地捕获在所述闪烁体(13)中产生并且到达所述半导体检测器(15)的光子，而且将所述光子转化为电测量信号。在所述测量单元中提供了专门与本安的点火防护级别相关的防爆措施。所述辐射度测量设备也包括将被设置在所述易于爆炸区域的外面并且被连接到所述测量单元(7)的上级单元(11)。在测量操作期间，所述上级单元用作所述测量单元(7)尤其是所述半导体检测器(15)的本安供电。

主权项

1.一种用于在易于爆炸区域中执行测量的辐射度测量设备，具有：测量单元(7)，所述测量单元(7)可用在易于爆炸区域中，具有：闪烁体(13)，所述闪烁体(13)将入射的放射性辐射转化为光子，以及半导体检测器(15)，所述半导体检测器(15)连接到所述闪烁体(13)并且能够借助于本安电源而被操作，且捕获在所述闪烁体(13)中产生并到达所述半导体检测器(15)的光子，以及将所述光子转化为电测量信号，其中提供了与本安的点火防护级别相关的测量单元防爆措施，以及上级单元(11，11’)，所述上级单元(11，11’)被设置在所述易于爆炸区域的外面并且被连接到所述测量单元(7)，在测量操作期间，所述上级单元用作所述测量单元(7)的本安供电，其中所述半导体检测器(15)是具有一个或若干个并联的光敏单元的半导体检测器芯片，所述光敏单元配备有光电二极管，并且所述光电二极管具有小于30V的低击穿电压，并且所述半导体检测器(15)能够以相应的低操作电压操作。