[发明专利]光学布置、尤其是等离子体光源或EUV光刻设备有效

专利信息
申请号: 201480062219.2 申请日: 2014-08-18
公开(公告)号: CN105723282B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: M.贝克尔;U.米勒;O.阿普 申请(专利权)人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;B08B7/00;B24C1/00;B24C7/00;B24C11/00;C01B32/55;G01N21/88;G21K1/06;H01J65/04;H05G2/00;G02B27/00;G01N21/94
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈钘;张邦帅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及光学组件,尤其是等离子体光源(1′)或EUV光刻系统,包含:壳体(2),其包围内壳空间(3);真空生成单元,用于在上述壳体(2)中产生真空;至少一个表面(13),布置在所述内壳空间(3)中;清洁装置(15),用于移除沉积在所述表面(13)上的污染物质(14);以及观察装置(25),用于观察所述表面(13),其中,所述观察装置(25)具有能够朝着所述表面(13)取向的观察光学单元(26)。所述清洁装置(15)设计为通过释放CO2颗粒(17)形式的CO2移除沉积的污染物质(14)。
搜索关键词: 光学 布置 尤其是 等离子体 光源 euv 光刻 设备
【主权项】:
1.光学布置,具有壳体(2),其包围内壳空间(3),真空生成单元(12),用于在所述壳体(2)中产生真空,至少一个表面(13),其布置在所述内壳空间(3)中,以及清洁装置(15),用于移除沉积在所述表面(13)上的污染物质(14),所述清洁装置(15)设计为通过释放CO2颗粒(17)形式的CO2来移除沉积的污染物质(14),以及监控装置(25),用于监控所述表面(13),所述监控装置(25)具有能够被引导至所述表面(13)上的监控光学系统(26),其中,所述清洁装置(15)具有将所述CO2颗粒(17)供应给所述表面(13)的供应装置(35),所述供应装置(35)包含供应线(19),所述供应线具有用于释放所述CO2颗粒(17)的出口开口(20),所述供应线(19)具有用于将所述出口开口(20)引导至所述表面(13)的不同点的至少一个柔性线部分(21),其中,所述监控装置(25)包含图像传输线(27),所述监控光学系统(26)安装在所述图像传输线上,所述图像传输线(27)具有用于将所述监控光学系统(26)引导至所述表面(13)的不同点的至少一个柔性线部分(28),以及其中,所述供应线(19)和所述图像传输线(27)布置为彼此接近,至少部分地彼此连接。
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