[发明专利]高分辨率多圈传感器相关的器件和方法在审
申请号: | 201480056154.0 | 申请日: | 2014-09-11 |
公开(公告)号: | CN105765347A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | E·博格斯;C·扣奇;P·威尔曼 | 申请(专利权)人: | 伯恩斯公司 |
主分类号: | G01D5/12 | 分类号: | G01D5/12;G01D5/20;G01D5/24 |
代理公司: | 北京市正见永申律师事务所 11497 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 高分辨率多圈传感器相关的器件和方法。在一些实施例中,位置感测器件可包括具有纵向轴线的轴以及具有磁体和磁传感器的第一传感器。所述磁体可耦接到所述轴,所述磁传感器可相对于所述磁体定位,以使得所述第一传感器允许对所述磁体相对于所述磁传感器的角位置的测量,从而允许对在所述轴的给定圈内的所述轴的对应角位置的确定。所述位置感测器件还可包括第二传感器,其耦接到所述轴并且配置为允许对所述轴的圈数的测量。所述第二传感器可包括一个或多个不同类型的感测功能以产生表示所述轴的圈数的输出。 | ||
搜索关键词: | 高分辨率 传感器 相关 器件 方法 | ||
【主权项】:
一种位置感测器件,包括:轴,其具有纵向轴线;第一传感器组件,其具有磁体和磁传感器,所述磁体耦接到所述轴,所述磁传感器相对于所述磁体定位,以使得所述第一传感器组件允许对所述磁体相对于所述磁传感器的角位置的测量,从而允许对在所述轴的给定圈内的所述轴的对应角位置的确定;以及第二传感器组件,其耦接到所述轴并且配置为允许对所述轴的圈数的测量,所述第二传感器组件包括非磁传感器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于伯恩斯公司,未经伯恩斯公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480056154.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于定位颗粒的探测方法和用于执行这种方法的设备
- 下一篇:远心透镜