[发明专利]用于在补偿背景信号的情况下测量来自测量体积的散射光的装置

摘要

本发明涉及一种用于在补偿背景信号的情况下测量来自测量体积的散射光的装置，其具有：至少一个光传感器(1)，所述光传感器包括至少两个可分开评估的光敏性的元件(1a、1b)；唯一的成像的光学系统(2)，其中，光敏性的元件(1a、1b)设置在光学系统(2)的像面中并且测量体积设置在对应的物面中，光敏性的元件(1a、1b)的可见区域在物面中完全地彼此分开并且在物面后面彼此重叠；具有准直的光束(8)的光发射器(7)，其在通过物面延伸的并且限定测量体积的区域(3b)中只穿过或至少以较大的程度穿过一个光敏性的元件(1b)的可见区域，从而该光敏性的元件(1b)检测来自测量体积的散射光和来自物面后面的重叠的可见区域的背景光并且另一个光敏性的元件(1a)没有检测或检测显著较少的来自测量体积的散射光和来自物面后面的重叠的可见区域的背景光，以及在光学系统(2)和光敏性的元件(1a、1b)之间设置的遮光物(6)，所述遮光物这样限制光敏性的元件(1a、1b)在物面后面的可见区域，使得两个可见区域的彼此不重叠的区域部分或完全地隐没。

主权项

1.用于在补偿背景信号的情况下测量来自测量体积的散射光的装置，所述装置具有·至少一个光传感器(1)，所述光传感器包括至少两个可分开评估的光敏性的元件(1a、1b)，·唯一的进行成像的光学系统(2)，其中，光敏性的元件(1a、1b)设置在光学系统(2)的像面中并且测量体积设置在光学系统的对应的物面中，光敏性的元件(1a、1b)的可见区域在物面中完全地彼此分开并且在物面后面彼此重叠，·包括准直的光束(8)的光发射器(7)，所述光束在通过物面延伸的并且限定测量体积的区域(3b)中只穿过或至少以较大的程度穿过一个光敏性的元件(1b)的可见区域，从而该光敏性的元件(1b)检测来自测量体积的散射光和来自物面后面的重叠的可见区域的背景光，并且另一个光敏性的元件(1a)没有检测或检测显著较少的来自测量体积的散射光和来自物面后面的重叠的可见区域的背景光，其特征在于，·所述装置包括在光学系统(2)和光敏性的元件(1a、1b)之间设置的一个遮光物(6)，所述遮光物这样限制光敏性的元件(1a、1b)在物面后面的可见区域，使得两个可见区域的彼此不重叠的区域部分或完全地隐没。