[发明专利]光学介质再现装置和光学介质再现方法有效
申请号: | 201480036737.7 | 申请日: | 2014-04-11 |
公开(公告)号: | CN105340012B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 西纪彰;齐藤公博;白石淳也;中尾敬;山本健二 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/005 | 分类号: | G11B7/005;G11B20/10;G11B20/14 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 王玉双;祁建国 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种用于对其中形成多个轨道的光学介质进行光学再现的光学介质再现装置,包括:检测单元,用于将从光学介质返回的光束的横截面划分为多个区域,并形成所述多个区域的各自的检测信号;多输入自适应均衡器,所述多输入自适应均衡器具有多个自适应均衡器单元,其中所述多个区域的各自的检测信号被输入到所述多个自适应均衡器单元中,并且对所述多个自适应均衡器单元的输出进行计算以形成均衡信号;二进制化单元,用于将所述均衡信号二进制化以得到二进制数据;以及均衡误差计算单元,用于根据基于来自所述二进制化单元的二进制数据而得到的均衡目标信号、以及从所述多输入自适应均衡器输出的均衡信号来确定均衡误差,并将所述均衡误差作为用于自适应均衡的控制信号而提供给所述自适应均衡器单元。 | ||
搜索关键词: | 光学 介质 再现 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学介质再现装置,用于对其中形成多个轨道的光学介质进行光学再现,包括:检测单元,用于在光束照射到所述光学介质上并从所述光学介质返回到所述检测单元之后,沿切向方向将所述光束的横截面划分为多个区域,并形成所述多个区域的各自的检测信号,其中返回的光束包括由一个光束同时再现的三个轨道的混合信息;和数据检测处理单元,所述数据检测处理单元被配置为处理通过划分所述光束而获得并从所述检测单元输入的所述各自的检测信号,以提供二进制数据,其中仅使用从一个待再现的轨道读出的输出而消除了所述二进制数据中的相邻轨道串扰,所述数据检测处理单元包括:多输入自适应均衡器,所述多输入自适应均衡器具有多个自适应均衡器单元,其中所述多个区域的各自的检测信号被输入到所述多个自适应均衡器单元中,并且对所述多个自适应均衡器单元的输出进行计算以形成均衡信号;二进制化单元,用于将所述均衡信号二进制化以得到其中消除了相邻轨道串扰的二进制数据;以及均衡误差计算单元,用于根据基于来自所述二进制化单元的所述二进制数据而得到的均衡目标信号、以及从所述多输入自适应均衡器输出的所述均衡信号来确定均衡误差,并将所述均衡误差作为用于自适应均衡的控制信号而提供给所述自适应均衡器单元,所述多个区域是通过划分为四个或更多个而形成的。
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