[发明专利]离子阱中的离子的检测有效

专利信息
申请号: 201480034458.7 申请日: 2014-04-24
公开(公告)号: CN105556638A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: R·M·A·荷伦;J·H·章曼;D·史密斯 申请(专利权)人: 荷兰原子和分子物理学研究所
主分类号: H01J49/38 分类号: H01J49/38;H01J49/02;H05K1/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张荣海
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 说明一种诸如离子回旋共振分析器室(阱)之类的离子阱,其中所述离子阱包含多个电极,并且包括至少一个集成的离子检测器,优选位置敏感和/或时间敏感检测器,其中至少部分的所述离子检测器被配置成所述离子阱的电极。还说明了这种离子阱中的离子的位置敏感检测的方法。
搜索关键词: 离子 中的 检测
【主权项】:
一种离子阱,优选的是离子回旋共振分析器室(阱),包含至少一个集成的离子检测器,优选的是位置敏感和/或时间敏感检测器。
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