[发明专利]用定量超声参数映射的一阶和二阶统计来分类和表征组织的系统和方法

摘要

用定量超声技术来分类组织的系统和方法。从在超声扫描期间从感兴趣区域中获取的原始回波信号数据中直接计算参数并且使用这些参数来产生参数映射。在使用参考数据归一化该回波信号数据之后计算这些参数以减少仪器设置中的变化、超声波束衍射和衰减效应的影响。一阶和二阶统计度量是从这些参数映射中计算出的，并且被用于分类感兴趣区域中的组织或多种组织。使用这些系统和方法，可以利用不同的分类等级来分类组织。例如，表征为恶性癌的组织可被附加地分级(例如，等级I,II或III)。

主权项

一种用超声系统将组织分类成与特定组织学状态相关联的方法，所述方法的步骤包括：a)使用所述超声系统从包含所述组织的感兴趣区域中获取超声回波信号数据；b)从所获取的超声回波信号数据产生至少一个参数映射，所述至少一个参数映射具有与从所获取的超声回波信号数据中计算的参数相关联的像素值；c)计算所述至少一个参数映射的至少一个一阶统计度量；d)计算所述至少一个参数映射的至少一个二阶统计度量；以及e)使用所计算的至少一个一阶统计度量和所计算的至少一个二阶统计度量将所述组织分类成与特定组织学状态相关联。