[发明专利]用于电离样本气流的颗粒的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201480029148.6 申请日: 2014-03-20
公开(公告)号: CN105247653A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: M·西皮莱;J·范哈南 申请(专利权)人: 艾尔莫杜斯有限公司;赫尔辛基大学
主分类号: H01J49/14 分类号: H01J49/14;H01J49/26;G01N27/62;G01N27/64
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 王勇;王博
地址: 芬兰赫*** 国省代码: 芬兰;FI
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于电离样本气流的颗粒(分子或团簇)的装置,包括:用于提供样本气流的第一流体管,以及用于在主要离子产生区域从候选试剂气流的颗粒产生试剂主要离子的发生器。所述装置还具有相互作用区域,其用于将试剂离子引入样本气流,从而在试剂主要离子和样本气流的颗粒之间进行相互作用,由此产生将被传送至检测器的样本气体离子。用于产生试剂主要离子的发生器是非放射性软X射线辐射源。
搜索关键词: 用于 电离 样本 气流 颗粒 方法 装置
【主权项】:
一种用于通过电离器电离样本气流的颗粒的方法,其中,所述颗粒包括分子或团簇,并且所述方法包括如下步骤:‑提供所述样本气流以流动通过相互作用区域,‑从候选试剂气流的颗粒产生试剂主要离子,‑将所述试剂主要离子和所述样本气流引入所述相互作用区域,以在所述试剂离子和所述样本气流的颗粒之间进行相互作用,从而产生将被传送至检测器的样本气体离子,其中,‑通过使用来自非放射性X射线源的软X射线辐射电离所述候选试剂气流的颗粒来产生所述试剂离子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾尔莫杜斯有限公司;赫尔辛基大学,未经艾尔莫杜斯有限公司;赫尔辛基大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480029148.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top