[发明专利]离子修饰有效
| 申请号： | 201480027747.4 | 申请日： | 2014-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN105209897B | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | D·夏普;J·阿特金森 | 申请（专利权）人： | 史密斯探测－沃特福特有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 顾问;谢鑫 |
| 地址： | 英国赫*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种离子迁移光谱测定方法，包括确定样本是否包含具有第一特性的离子，以及在确定该样本包含具有第一特性的离子的情况下，对母离子施加热能以及射频RF电场，以便获取具有第二特性的子离子，由此基于所述第一特性和所述第二特性来推断出母离子的至少一个标识。 | ||
| 搜索关键词： | 离子 修饰 | ||
【主权项】：
1.一种离子迁移光谱测定方法，包括：确定样本是否包含具有第一特性的离子；在确定所述样本包含具有所述第一特性的离子的情况下，则对母离子施加热能以及射频RF电场，以便获取具有第二特性的子离子，以基于所述第一特性和所述第二特性来推断出所述母离子的至少一个标识；其中施加热能包括加热光谱仪中施加有所述RF电场的区域，且对该区域的加热超出所述光谱仪的其他区域。
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