[发明专利]按压检测装置及触控面板有效
申请号: | 201480026467.1 | 申请日: | 2014-05-16 |
公开(公告)号: | CN105229436B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 吉田光伸;谷本一洋;西川茂雄 | 申请(专利权)人: | 三井化学株式会社;株式会社村田制作所 |
主分类号: | G01L1/16 | 分类号: | G01L1/16;C08L67/04;G06F3/041;H01L41/113;H01L41/193 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军;王大方 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种按压检测装置,其具有被加压构件和压电构件,所述被加压构件具有接触面,所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力,所述压电构件与上述被加压构件相向配置,且包含高分子压电材料,所述高分子压电材料的在25℃下通过位移法测得的压电常数d14为1pm/V以上,上述被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏模量Eb的积IEb,与上述压电构件的截面惯性矩Ia和杨氏模量Ea的积IEa之比IEb/IEa在102~1010的范围内。 | ||
搜索关键词: | 按压 检测 装置 面板 | ||
【主权项】:
1.一种按压检测装置,其具有:被加压构件,所述被加压构件具有接触面,所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力,和压电构件,所述压电构件与所述被加压构件相向配置,且包含高分子压电材料,所述高分子压电材料的在25℃下通过位移法测得的压电常数d14为1pm/V以上,所述被加压构件的截面惯性矩Ib和杨氏模量Eb的积IEb在10GPa·mm4~106GPa·mm4的范围内,所述积IEb与所述压电构件的截面惯性矩Ia和杨氏模量Ea的积IEa之比IEb/IEa在105~108的范围内,所述高分子压电材料包含重均分子量为5万~100万的具有光学活性的螺旋手性高分子,利用DSC法得到的结晶度为20%~80%,并且利用微波透过型分子取向计测定的将基准厚度设定为50μm时的标准化分子取向MORc和所述结晶度的积为40~700,所述螺旋手性高分子为具有包含下述式(1)表示的重复单元的主链的聚乳酸系高分子,
在压电构件的与被加压构件侧相反的一侧具有空腔。
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