[发明专利]光源阵列热量斜率的检测方法和系统有效
| 申请号： | 201480023691.5 | 申请日： | 2014-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN105190152B | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | J·史密斯 | 申请（专利权）人： | 锋翔科技公司 |
| 主分类号： | G01K3/00 | 分类号： | G01K3/00 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 陈庆超;桑传标 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种操作一个或多个发光装置的系统和方法，在一个实施例中，操作发光装置的系统包括：直流电源；多个发光装置，该发光装置有选择的接收来自所述直流电源的电流；控制器，该控制器包括存储在非瞬时性存储器的可执行指令，该指令用于停止从所述直流电源到所述多个发光装置的电流，以响应所述多个发光装置的温度增长率。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 阵列 热量 斜率 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种操作多个发光装置的方法，包括：为耦合在散热器正面的所述多个发光装置提供电流；通过耦合在所述散热器背面的温度传感装置测量所述多个发光装置的温度；以及停止所述电流的流动，以响应所述多个发光装置的温度增长率超过温度增长率阈值的情况，其中，所述停止所述电流的流动以响应所述多个发光装置的温度增长率超过温度增长率阈值的情况包括：停止所述电流的流动，以响应在所述多个发光装置的温度增长率没有减小的情况下的两个连续超过温度增长率阈值的指示。
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