[发明专利]用于散射光测量仪的测试装置，用于散射光测量仪的测试装置的制造方法和用于检验散射光测量仪的方法有效
| 申请号： | 201480021618.4 | 申请日： | 2014-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN105102961B | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | K.施滕格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.霍斯;D.施特拉克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/47 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 李永波,李婷 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于散射光测量仪的测试装置(10)，散射光测量仪具有透光体(20)，该基体可以布置在散射光测量仪的测量室(16)中和包括多个散射中心(22)，借此从散射光测量仪的光源(12)射出的光(14)可以散射，其中，散射中心(22)位于透光体(20)的一个散射体段(24)中，该散射体段布置在透光体(20)的上游的区域(26)和透光体(20)的下游的区域(28)之间，和其中，该上游的区域(26)和下游的区域(28)分别没有散射中心(22)。本发明也涉及一种用于散射光测量仪的测试装置的制造方法。此外本发明涉及一种用于检验散射光测量仪的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 散射 测量仪 测试 装置 制造 方法 检验 | ||
【主权项】：
用于散射光测量仪的测试装置(10，60，70，80，90)，具有透光体(20)，其可以布置在散射光测量仪的测量室(16)中和包括多个散射中心(22)，借此可以散射由散射光测量仪的光源(12)射出的光(14);其特征在于，散射中心(22)位于透光体(20)的一个散射体段(24)中，它布置在透光体(20)的上游的区域(26)和透光体(20)的下游的区域(28)之间，其中，所述上游的区域(26)和下游的区域(28)各没有所述散射中心(22)，其中，透光体(20)的上游的区域(26)和透光体(20)的下游的区域(28)是一个包封体(92)的子单元，该包封体至少在两个空间方向上完全地包封具有散射中心(22)的散射体段(24)，其中，包封体(92)没有所述散射中心(22)。
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