[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201480005796.8 申请日: 2014-01-22
公开(公告)号: CN104937393B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 西墙宪一 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N35/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 张敬强,严星铁
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供自动分析装置,在测定血液、尿等生物体样品中目标成分的浓度或者有无的自动分析装置中,具有对光学系统中的消耗品进行判定或检测劣化程度并向使用者提供信息的功能。具备存储部和控制部,存储部在测定从光源透过被测物质的透射光时存储由受光元件检测的多个波长的透光度分布,控制部对预先保存在上述存储部中的第一透光度分布和测定时获取的第二透光度分布进行比对,控制部根据比对结果从多个部件中判定劣化部件并进行输出。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
一种自动分析装置,其具备光源和配置在上述光源的光轴上的多个部件,上述自动分析装置的特征在于,具备:在测定从上述光源透过被测物质的透射光时存储由受光元件检测的初期透光量分布和预先通过实验求得的对应于上述多个部件的各个部件的劣化时的透光量分布的数据保存部;以及对预先保存在上述数据保存部中的上述初期透光量分布及预先通过实验求得的对应于上述多个部件的各个部件的劣化时的透光量分布、和实时测定时获取的透光量分布进行比对的控制部,上述控制部根据比对结果从上述多个部件中判定劣化部件并进行输出,上述控制部对上述实时测定时获取的透光量分布和上述初期透光量分布及预先通过实验求得的对应于上述多个部件的各个部件的劣化时的透光量分布进行比对,根据其比对结果,求出这些分布的相关度,并根据求出的该相关度,求出对应于上述多个部件的各个部件的劣化程度。
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