[实用新型]一种伺服驱动器老化测试装置有效
| 申请号： | 201420768320.7 | 申请日： | 2014-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN204287349U | 公开（公告）日： | 2015-04-22 |
| 发明（设计）人： | 欧胜;刘国鹰;曾国辉;刘海珊;占兴;王庆振 | 申请（专利权）人： | 上海工程技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海国智知识产权代理事务所(普通合伙) 31274 | 代理人： | 潘建玲 |
| 地址： | 201620 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型属于伺服驱动器老化测试领域，提供了一种伺服驱动器老化测试装置，包括：伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘；可编程逻辑控制器，与伺服驱动器相连接，用于向伺服驱动器发送老化测试指令；伺服驱动器，与伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动；伺服电机，与可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。本实用新型具备测试周期短、效率高，节约成本，提高伺服驱动器老化测试准确度的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 伺服 驱动器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种伺服驱动器老化测试装置，其特征在于，包括：伺服驱动器、可编程逻辑控制器、伺服电机和可变负载惯量盘；所述可编程逻辑控制器，与所述伺服驱动器相连接，用于向所述伺服驱动器发送老化测试指令；所述伺服驱动器，与所述伺服电机相连接，用于驱动伺服电机转动；所述伺服电机，与所述可变负载惯量盘相连接，用于带动可变负载惯量盘转动。
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