[实用新型]一种测试装置及测试治具有效

专利信息
申请号: 201420581441.0 申请日: 2014-10-09
公开(公告)号: CN204228746U 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 黄成勇;许吉明 申请(专利权)人: 深圳市江波龙电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型适用于测试技术领域,提供了一种测试装置及测试治具,所述测试装置包括:上位机,与所述上位机电连接的测试治具;以及可拆卸式连接于所述测试治具的测试参数配置器;其中,所述测试治具包含微处理器以及多个可拆卸式连接于所述测试治具的测试接口,所述微处理器与连接于所述测试治具的测试接口电连接。通过本实用新型,可满足不同类型产品的测试需求,增强测试装置的多效性和实用性,节约企业系统开发和维护的成本。
搜索关键词: 一种 测试 装置
【主权项】:
一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:上位机,与所述上位机电连接的测试治具;以及可拆卸式连接于所述测试治具的测试参数配置器;其中,所述测试治具包含微处理器以及多个可拆卸式连接于所述测试治具的测试接口,所述微处理器与连接于所述测试治具的测试接口电连接。
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