[实用新型]用于计算物料灰分的参数检测装置及物料灰分的测量设备有效

专利信息
申请号: 201420426276.1 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN204228590U 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 孙宇;李建平;衣宏昌 申请(专利权)人: 北京辰安测控科技有限公司
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01N23/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张大威
地址: 100192 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提出一种用于计算物料灰分的参数检测装置,包括:用于承载物料的传送带;激光源,激光源以预定角度向物料发射激光束,激光束在物料上的投射点沿传送带的宽度方向形成直线且直线的长度大于物料的宽度;用于采集激光束在物料上的反射成像的摄像头;探测器,探测器位于物料的下方,以检测物料的放射性;分别与摄像头和探测器相连的存储器,存储用于计算物料灰分的参数,参数包括激光束在物料上的反射成像、物料的放射性和传送带的传送速度。根据本实用新型的用于计算物料灰分的参数检测装置具有参数检测准确、可靠的优点,另外,该装置具有结构简单、成本低的优点。本实用新型还提出了一种物料灰分的测量设备。
搜索关键词: 用于 计算 物料 灰分 参数 检测 装置 测量 设备
【主权项】:
一种用于计算物料灰分的参数检测装置,其特征在于,包括:用于承载物料的传送带;激光源,所述激光源以预定角度向所述物料发射激光束,所述激光束在所述物料上的投射点沿所述传送带的宽度方向形成直线且所述直线的长度大于所述物料的宽度;用于采集所述激光束在所述物料上的反射成像的摄像头;探测器,所述探测器位于所述物料的下方,以检测所述物料的放射性;以及分别与所述摄像头和所述探测器相连的存储器,以存储用于计算物料灰分的参数,所述参数包括所述激光束在所述物料上的反射成像、所述物料的放射性和所述传送带的传送速度。
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