[实用新型]光电鼠标IC成像性能测试组件有效
| 申请号： | 201420364228.4 | 申请日： | 2014-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN204008990U | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 郭军 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽旺半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市中闻律师事务所 11388 | 代理人： | 王新发;常亚春 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了光电鼠标IC成像性能测试组件，解决了传统测试中IC及成像面都是固定的，因而只能进行功能测试的问题。本实用新型包括用于吸取IC的取料机械手（1），用于放置IC的测试平台（2），以及用于IC功能测试的测试机构（3），其特征在于：还包括位于测试平台（2）下方的成像测试旋转机构；所述成像测试旋转机构主要由位于测试平台（2）下方的成像旋转板（4）、和驱动成像旋转板（4）转动的电机（5）组成。本实用新型在功能测试的基础上增加成像性能测试，且具有测试效果准确、结构简单等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 鼠标 ic 成像 性能 测试 组件 | ||
【主权项】：
光电鼠标IC成像性能测试组件，包括用于吸取IC的取料机械手（1），用于放置IC的测试平台（2），以及用于IC功能测试的测试机构（3），其特征在于：还包括位于测试平台（2）下方的成像测试旋转机构；所述成像测试旋转机构主要由位于测试平台（2）下方的成像旋转板（4）、和驱动成像旋转板（4）转动的电机（5）组成。
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