[实用新型]一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置有效
| 申请号： | 201420210236.3 | 申请日： | 2014-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN203869770U | 公开（公告）日： | 2014-10-08 |
| 发明（设计）人： | 江孝国;王远;李洪;石金水;李劲 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01H9/00 | 分类号： | G01H9/00 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置，所述的测量装置中的光源发出的光线经透镜产生一个圆柱型平行光束，平行光束经光束成型器的限制而形成需要的长度及宽度合适的矩形平行光束，矩形平行光束分别照射在被测量物体和线阵CCD探测器上，线阵CCD探测器将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统进行处理，处理结果再送到计算机处理。本实用新型的测量装置结构简单，可靠性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 振动 绝对 位移 快速 光学 直接 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置，其特征在于：所述的测量装置中的光源（1）发出的光线经透镜（2）产生一个圆柱型平行光束（4），平行光束（4）经光束成型器（3）的限制而形成矩形平行光束，矩形平行光束分别照射在被测量物体（5）和线阵CCD探测器（6）上，线阵CCD探测器（6）将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统（7）进行处理，处理结果再送到计算机（8）处理。
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