[实用新型]静态法比表面及孔径分析仪有效
| 申请号： | 201420148783.3 | 申请日： | 2014-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN203811514U | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 柳剑峰 | 申请（专利权）人： | 贝士德仪器科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;付久春 |
| 地址： | 100193 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种静态法比表面及孔径分析仪，属于比表面及孔径分析设备领域。该分析仪包括：钢瓶、基准腔、若干阀门和测试腔，所述钢瓶经管路与基准腔连接，所述基准腔经管路、各阀门与所述测试腔连接，还包括：基准腔恒温装置，为容器结构，罩设在所述基准腔、连接所述基准腔的管路和所述各阀门外面。该分析仪通过设置基准腔恒温装置，保证了基准腔、各阀门、传感器等关键部件的温度恒定，消除环境温度变化对基准腔体积及各个器件的影响，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 静态 比表面 孔径 分析 | ||
【主权项】：
一种静态法比表面及孔径分析仪，包括：钢瓶、基准腔、若干阀门和测试腔，所述钢瓶经管路与基准腔连接，所述基准腔经管路、各阀门与所述测试腔连接，其特征在于，还包括：基准腔恒温装置，为容器结构，罩设在所述基准腔、连接所述基准腔的管路和所述各阀门外面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贝士德仪器科技（北京）有限公司，未经贝士德仪器科技（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420148783.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种结石分析仪用快速分析漫反射附件
- 下一篇：一种合成革透气性能检测装置
