[实用新型]LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统有效
| 申请号： | 201420110924.2 | 申请日： | 2014-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN203745602U | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 何选民 | 申请（专利权）人： | 何选民 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 | 代理人： | 胡清方;彭友华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体和采光机构，测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；LED承载平台上设有样品测试工位和被测LED测试工位，移动LED承载平台，所述测试系统主体可分别测试LED样品和被测LED的光电参数，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。本实用新型具有一次安装测试完成后，即可评估整个矩阵发光二极管的性能，大幅度减少生产中LED性能评估时间；将光参数测试模块，电参数测试模块，矩阵开关都集成在机箱内，集成化程度高，不受外界环境的干扰。 | ||
| 搜索关键词： | led 光电 性能 相对 标准 阵列 评估 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体、被测LED矩阵开关、采光机构和LED承载平台，其中，所述测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；所述被测LED矩阵开关受控于所述测试系统主体，用于按顺序点亮承载平台的被测LED安装工位上的被测LED，同时，采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数；所述采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；其特征在于：还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关，以及在所述LED承载平台上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位，移动所述LED承载平台，所述测试系统主体测试分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试。
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