[实用新型]介电测试开关结构及具介电测试开关结构的断路器脱扣器有效
| 申请号： | 201420073099.3 | 申请日： | 2014-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN203774228U | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 刘振忠 | 申请（专利权）人： | 施耐德电器工业公司 |
| 主分类号： | H01H71/16 | 分类号： | H01H71/16;G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 法国吕埃*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种介电测试开关结构及具有介电测试开关结构的断路器脱扣器，介电测试开关结构设置于断路器脱扣器上且适用于该断路器的介电测试，介电测试开关结构包括：按钮，可往复移动地设置于断路器脱扣器的外壳上，在按钮上设有断路器脱扣器的动触片；双稳态金属片，固设于外壳上，用于锁定按钮于一第一位置。由此，使其断路器的测试可利用双稳态金属片的设置，来实现类似于自动铅笔弹出结构的特点，故该介电测试开关具有体积小、结构简单及操作方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 开关 结构 具介电 断路器 脱扣器 | ||
【主权项】：
一种介电测试开关结构，设置于断路器脱扣器上且适用于该断路器的介电测试，其特征在于，该介电测试开关结构包括：按钮，可往复移动地设置于该断路器脱扣器的外壳上，在该按钮上设有该断路器脱扣器的动触片；双稳态金属片，固设于该外壳上，用于锁定该按钮于一第一位置。
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