[实用新型]一种双波长调制痕量物质光电检测装置有效
| 申请号： | 201420013536.2 | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN203672786U | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 高秀敏;朱厚飞 | 申请（专利权）人： | 高秀敏 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种双波长调制痕量物质光电检测装置，包括控制处理单元、光源和光电探测器，所述的光源包括波长不同的第一波长光源和第二波长光源，所述的第一波长光源和第二波长光源与所述的控制处理单元之间分别连接有第一调制模块和第二调制模块；所述的第一波长光源和第二波长光源的出射光束经合束镜合成为方向相同的合成光束，合成光束入射到被测区域并激发得到荧光，在所述荧光出射方向设置有用于探测所述荧光的光电探测器，所述光电探测器通过调制解调器连接到所述的控制处理单元。本实用新型具有灵敏度高、结构简单、可靠性高的特点，同时可实现对两种物质、多种物质形态的在线原位检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波长 调制 痕量 物质 光电 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种双波长调制痕量物质光电检测装置，包括控制处理单元、光源和光电探测器，其特征在于，所述的光源包括波长不同的第一波长光源和第二波长光源，所述的第一波长光源和第二波长光源与所述的控制处理单元之间分别连接有第一调制模块和第二调制模块；所述的第一波长光源和第二波长光源的出射光束经合束镜合成为方向相同的合成光束，合成光束入射到被测区域并使被测区域激发得到荧光，在所述荧光出射方向设置有用于探测所述荧光的光电探测器，所述光电探测器通过调制解调器连接到所述的控制处理单元。
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