[发明专利]天线罩内廓型面的测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种天线罩内廓型面的测量方法及装置，该方法包括：在天线罩的理论模型曲面上垂直等距划分若干条初始截面线Hi；以特定截面与天线罩理论内廓型面求交线，得到两条初始测量线；根据各初始测量线的曲率离散所述初始测量线，得到第一测量点及其法矢；基于第一测量点对内廓型面进行测量，得到坐标数据；构造两条测量截面线，并在特定截面的范围内构造初始内廓型面；确定测量路径线；离散测量路径线，确定第二测量点及其法矢；对初始内廓型面进行测量，获得第二测量点的坐标数据；对第二测量点的坐标数据进行拟合得到天线罩的内廓型面模型。本发明能够准确地实现天线罩的等截面测量，减少路径规划带来的误差，实现天线罩内廓型面的精加工。

主权项

1.一种天线罩内廓型面的测量方法，其特征在于，包括：步骤S11、沿所述天线罩的中心轴方向，在所述天线罩的理论模型曲面上垂直等距划分若干条初始截面线Hi；步骤S12、对于每一条所述初始截面线Hi，以截面Zi＝Hi+δ和Zi＝Hi‑δ与所述天线罩的理论内廓型面求交线，得到两条初始测量线Hi1和Hi2，其中，0＜δ≤1mm，δ为容差值；步骤S13、根据各所述初始测量线Hi1的曲率离散所述初始测量线Hi1，并根据各所述初始测量线Hi2的曲率离散所述初始测量线Hi2，得到对应于所述初始测量线Hi1和Hi2的若干个第一测量点及各所述第一测量点的法向矢量；步骤S14、分别以所述第一测量点对所述理论内廓型面进行测量，得到各所述第一测量点的坐标数据；步骤S15、基于所述第一测量点的坐标数据构造两条测量截面线H′i1和H′i2，并基于两条所述测量截面线H′i1和H′i2在Zi＝Hi+δ和Zi＝Hi‑δ之间的范围内构造初始内廓型面；步骤S16、以Zi＝Hi对所述初始内廓型面进行截取，将所获取到的截面线作为测量路径线；步骤S17、根据所述测量路径线的曲率及长度离散所述测量路径线，确定若干个第二测量点并计算各所述第二测量点处的法向矢量；步骤S18、以所述第二测量点及其法向矢量对所述初始内廓型面进行测量，获得所述第二测量点的坐标数据；以及步骤S19、对所述第二测量点的坐标数据进行拟合，得到所述天线罩的内廓型面模型。