[发明专利]一种复合绝缘子服役寿命的评价方法有效

专利信息
申请号: 201410786920.0 申请日: 2014-12-18
公开(公告)号: CN104568812A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 曹宏伟;朱莉娜;吴文龙;杜林娟;陈浩军 申请(专利权)人: 国网河南省电力公司电力科学研究院;国家电网公司
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 刘建芳;张智伟
地址: 450052 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开一种复合绝缘子服役寿命的评价方法。复合绝缘子外伞裙经清扫处理后,对高压端第一片外伞裙中心同心圆位置均匀裁剪多个测试点,干燥后,放置ATR-FTIR光谱仪中采集红外光谱信息;选取光谱图中-Si-O-和-CH3特征峰为复合绝缘子外伞裙中无机和有机组分代表性特征峰;计算-Si-O-和-CH3特征峰峰面积比值,并求多个测试点的平均值作为该复合绝缘子的-Si-O-/-CH3比值;依据前述方法,对不同复合绝缘子进行测试;根据不同复合绝缘子的-Si-O-/-CH3比值,对复合绝缘子服役寿命进行评价:比值越大,寿命越短;比值越小,寿命越长。本发明方法,解决了检测、制样复杂的问题;解决了图谱峰过于复杂影响特征量提取的问题;解决了FTIR精确定量检测的问题;检测结果不受生产厂家、配方等的影响。
搜索关键词: 一种 复合 绝缘子 服役 寿命 评价 方法
【主权项】:
一种复合绝缘子服役寿命的评价方法,其特征在于:复合绝缘子外伞裙经清扫处理后,对高压端第一片外伞裙中心同心圆位置均匀裁剪多个测试点,干燥后,放置ATR‑FTIR光谱仪中采集红外光谱信息;选取光谱图中‑Si‑O‑和‑CH3特征峰为复合绝缘子外伞裙中无机和有机组分代表性特征峰;计算‑Si‑O‑和‑CH3特征峰峰面积比值,并求多个测试点的平均值作为该复合绝缘子的‑Si‑O‑/‑CH3比值;依据前述方法,对不同复合绝缘子进行测试;根据不同复合绝缘子的‑Si‑O‑/‑CH3比值,对复合绝缘子服役寿命进行评价:‑Si‑O‑/‑CH3比值越大,寿命越短;‑Si‑O‑/‑CH3比值越小,寿命越长。
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