[发明专利]一种样品分析装置样品室在审
| 申请号： | 201410784803.0 | 申请日： | 2014-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN104458584A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 邓文平;朱道龙 | 申请（专利权）人： | 苏州谱道光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/15 | 分类号： | G01N21/15 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 唐灵;常亮 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种样品分析装置的样品室，包括光学安装组件和样品室腔壁，所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件；所述样品室腔壁上至少设置一个安装法兰，所述连接件通过所述安装法兰与所述样品室腔壁连接；所述连接件上设置有第一定位元素，所述安装法兰和所述光学安装组件二者之一上设置有第二定位元素，所述第一定位元素和所述第二定位元素安装时相互配合，提高了光学元件的安装复位精度。本发明解决了现有技术中拆卸状态下维护光路后需要重新调整光路以及通过窗口维护时存在维护死角的技术难题，实现对光学元件进行彻底、快速维护的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 样品 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种样品分析装置样品室，其特征在于：包括样品室腔壁和至少一个光学安装组件，所述光学安装组件与所述样品室腔壁之间设置有连接件；所述样品室腔壁上设置有至少一个安装法兰，所述连接件通过所述安装法兰与所述样品室腔壁连接；所述连接件上设置有第一定位元素，所述安装法兰和所述光学安装组件二者之一上设置有第二定位元素，所述第一定位元素和所述第二定位元素安装时相互配合用于增强安装精度。
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