[发明专利]X射线辐射探测器在审

专利信息
申请号: 201410784261.7 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN104730562A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: S.K.肖杜里;T.埃尔格勒;B.克赖斯勒;T.雷赫尔;C.施勒特;P.西弗斯 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01T1/16 分类号: G01T1/16;G01T1/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种根据本发明的X射线辐射探测器(1),包括至少两个相邻布置的探测器元件(2),为了检测入射的X射线辐射,分别在这些探测器元件上施加高压(SB)。在此,两个相邻的探测器元件(2)借助保护电路(4)互相耦合,该保护电路被设计为,将两个相邻的探测器元件(2)之间的电压差(ΔS)限制在对于在两个探测器元件(2)之间形成飞弧非临界的电压值(ΔSG)。
搜索关键词: 射线 辐射 探测器
【主权项】:
一种X射线辐射探测器(1),具有至少两个相邻布置的探测器元件(2),为了检测入射的X射线辐射,分别在这些探测器元件上施加高压(SB),其中,两个相邻的探测器元件(2)借助保护电路(4)互相耦合,并且其中,所述保护电路(4)被设计为,将两个相邻的探测器元件(2)之间的电压差(ΔS)限制在对于在两个探测器元件(2)之间形成飞弧非临界的电压值(ΔSG)。
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