[发明专利]用于复杂曲面高精度测量定位的标识基座在审
申请号: | 201410765335.2 | 申请日: | 2014-12-11 |
公开(公告)号: | CN104596412A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 高大明;刘志宏;赵会宁;马林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院等离子体物理研究所 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01C15/02 |
代理公司: | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人: | 余成俊 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于复杂曲面高精度测量定位的标识基座,包括有基座、靶座和样冲杆,基座的底面为与所需要进行定位标识工件的接触耦合面,基座的四周边沿分别设有四个V型槽,基座的中部设有中心孔,四个V型槽尖点的十字连线互相垂直,其交点与中心孔的圆心相重合;靶座为激光跟踪仪的球座或关节测量臂的球头座,靶座上的定位销轴可延伸到基座的中心孔内,靶座上定位销轴的中心线与基座中心孔的中心线相重合;样冲杆可延伸到基座的中心孔内,样冲杆的中心线与基座中心孔的中心线相重合。本发明的基座与被测量件的表面是接触良好的轮廓耦合面;四个V型槽尖点的十字连线的中心可以对通过样冲杆定位标识出的点进行校核;测量精度高,操作方便。 | ||
搜索关键词: | 用于 复杂 曲面 高精度 测量 定位 标识 基座 | ||
【主权项】:
一种用于复杂曲面高精度测量定位的标识基座,其特征在于:包括有基座、靶座和样冲杆,所述的基座为长方体结构,基座的端面为工作面,基座的底面为与所需要进行定位标识工件的接触耦合面,且基座的底面具有与所需要进行定位标识工件相同的轮廓形状,基座的四周边沿分别设有四个V型槽,基座的中部设有中心孔,所述四个V型槽尖点的十字连线互相垂直,其交点与所述中心孔的圆心相重合;所述的靶座为激光跟踪仪的球座或关节测量臂的球头座,靶座的中心线与基座中心孔的中心线相重合,靶座上的定位销轴可延伸到所述基座的中心孔内,靶座上定位销轴的中心线与所述基座中心孔的中心线相重合;所述的样冲杆可延伸到所述基座的中心孔内,样冲杆的外圆柱面与所述基座中心孔的孔壁紧密配合,样冲杆的中心线与所述基座中心孔的中心线相重合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院等离子体物理研究所;,未经中国科学院等离子体物理研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410765335.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:液晶显示器的摄影测量方法及其应用
- 下一篇:一种圆柱形测量装置与自动识别算法