[发明专利]一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器有效

专利信息
申请号: 201410758974.6 申请日: 2014-12-10
公开(公告)号: CN104515602B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 张少华;蔡禾;孙金海 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 代理人: 黄启行,张璐
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器,所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻,所述雪崩二极管与所述配阻连接。本发明的基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,通过在差分探测器中设置雪崩二极管和配阻,并将所述雪崩二极管与所述配阻连接,大大提升太赫兹信号的信噪比和动态范围。
搜索关键词: 一种 基于 电光 取样 原理 赫兹 脉冲 探测器
【主权项】:
一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括:电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器,其特征在于,所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻,所述雪崩二极管与所述配阻连接;其中,所述雪崩二极管的阻值为所述配阻阻值的2至400倍。
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