[发明专利]一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器有效
申请号: | 201410758974.6 | 申请日: | 2014-12-10 |
公开(公告)号: | CN104515602B | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
发明(设计)人: | 张少华;蔡禾;孙金海 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 | 代理人: | 黄启行,张璐 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器,所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻,所述雪崩二极管与所述配阻连接。本发明的基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,通过在差分探测器中设置雪崩二极管和配阻,并将所述雪崩二极管与所述配阻连接,大大提升太赫兹信号的信噪比和动态范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 电光 取样 原理 赫兹 脉冲 探测器 | ||
【主权项】:
一种基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器,所述基于电光取样原理的太赫兹脉冲探测器包括:电光晶体、λ/4波片、偏振分束镜和差分探测器,其特征在于,所述差分探测器包括雪崩二极管和配阻,所述雪崩二极管与所述配阻连接;其中,所述雪崩二极管的阻值为所述配阻阻值的2至400倍。
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