[发明专利]一种制革废水处理过程的水质检测方法有效

专利信息
申请号: 201410756633.5 申请日: 2014-12-10
公开(公告)号: CN104483298A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 范春辉 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 蔡和平
地址: 710021 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种制革废水处理过程的水质检测方法:首先,将制革废水处理过程水样离心,上清液过0.45μm滤膜后得到DOM溶液样品;其次,分析样品DOM的三维荧光光谱,计算不同处理工段废水DOM的荧光总强度;再次,以废水DOM荧光总强度去除率代表废水有机污染物去除率,该方法弥补了现有技术的不足,具有灵敏度高、重现性好、操作简便、分析费用低廉等特点和潜在的推广应用价值,有助于深度解析制革废水的净化机制。
搜索关键词: 一种 制革 废水处理 过程 水质 检测 方法
【主权项】:
一种制革废水处理过程的水质检测方法,其特征在于:包括以下步骤:第一步,将取自各个废水处理工段的水样离心,将离心得到的上清液分别经滤膜过滤后得到溶解性有机物溶液;第二步,对溶解性有机物溶液分别进行荧光光谱分析,将分析得到的每个荧光光谱中的所有荧光峰强无量纲数值相加,得到所述各个废水处理工段的水样各自的荧光总强度TFI:<mrow><mi>TFI</mi><mo>=</mo><munderover><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><msub><mi>FP</mi><mi>i</mi></msub></mrow>其中,FPi表示第i个荧光峰的荧光峰强无量纲数值,n表示每个荧光光谱中的荧光峰总数;第三步,利用以下公式计算所述各个废水处理工段的水样的荧光总强度去除率:<mrow><mfrac><mrow><msub><mi>TFI</mi><mn>1</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>TFI</mi><mi>t</mi></msub></mrow><msub><mi>TFI</mi><mn>1</mn></msub></mfrac><mo>&times;</mo><mn>100</mn><mo>%</mo><mo>,</mo><mn>1</mn><mo>&le;</mo><mi>t</mi><mo>&le;</mo><mi>m</mi></mrow>其中,TFI1表示取自第1个废水处理工段的水样的荧光总强度,TFIt表示取自第t个废水处理工段的水样的荧光总强度,m表示废水处理工段总数。
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