[发明专利]一种高斯径向基函数形状参数的确定方法在审
| 申请号： | 201410727193.0 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104408024A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 王东辉;武泽平;向敏;胡凡;江振宇;彭科;张为华 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
| 主分类号： | G06F17/15 | 分类号： | G06F17/15 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 胡伟华 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： |
本发明属于信息处理领域，具体涉及一种高斯径向基函数形状参数确定方法，包括以下步骤，建立代理模型，采样获取n个样本点xi，i＝1,2,…,n，并计算每个样本点的局部密度ρ(xi)；计算每个样本点的影响体积分数vi，即： |
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| 搜索关键词： | 一种 径向 函数 形状 参数 确定 方法 | ||
【主权项】：
一种高斯径向基函数形状参数确定方法，其特征在于，包括以下步骤：(S1)建立代理模型，采样获取n个样本点xi，i＝1,2,…,n，并计算每个样本点的局部密度ρ(xi)；(S2)计算每个样本点的影响体积分数vi，即：![]()
其中，k＝1,2,…,n；(S3)确定n个样本点的影响体积的总和Vt；(S4)计算得到每个样本点的影响体积Vi，即：Vi＝viVt；(S5)确定径向基代理模型的形状参数ci，即：![]()
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