[发明专利]基于透射型液晶空间光调制器的激光光束M2因子测量方法有效
| 申请号： | 201410659717.7 | 申请日： | 2014-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN104406685A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 田劲东;张磊;李东 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于透射型液晶空间光调制器的激光光束M2因子测量方法，包括：根据液晶空间光调制器的器件参数和透镜相位分布函数，计算生成所需焦距透镜的理想相位灰度图；搭建光路系统，并调整光路系统中起偏器和检偏器的角度，使液晶空间光调制器处于正确工作状态，然后加载不同焦距透镜的相位灰度图至液晶空间光调制器并采集对应焦距的光斑图像；计算不同焦距透镜相位灰度图对应光斑图像的光斑半径，并通过曲线拟合计算得到待测激光光束的M2因子。本发明具有快速、准确、装置简单和成本低的优点，可广泛应用于光学信息处理领域。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 透射 液晶 空间 调制器 激光 光束 sup 因子 测量方法 | ||
【主权项】：
基于透射型液晶空间光调制器的激光光束M2因子测量方法，其特征在于：包括：S1、根据液晶空间光调制器的器件参数和透镜相位分布函数，计算生成所需焦距透镜的理想相位灰度图；S2、搭建光路系统，并调整光路系统中起偏器和检偏器的角度，使液晶空间光调制器处于正确工作状态，然后加载不同焦距透镜的相位灰度图至液晶空间光调制器并采集对应焦距的光斑图像；S3、计算不同焦距透镜相位灰度图对应光斑图像的光斑半径，并通过曲线拟合计算得到待测激光光束的M2因子。
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